一、操作參數(shù)說明
一般火焰式原子分光光度計(jì)操作參數(shù)包括以下五點(diǎn)：
(1)火焰高度的調(diào)整
每一個元素最佳的反應(yīng)高度并不一樣，故必須調(diào)整其高度以達(dá)到最佳吸收度。
(2)燃料比例
每一個元素的操作靈敏度受氣燃比之影響相當(dāng)大，某些元素可能適合氧化焰(Lean，因二次空氣的供給，燃燒完全，焰溫較高，置于此焰層內(nèi)之金屬多被氧化成金屬氧化物。)，但有些可能適合還原焰(Rich，此焰層能使含氧化合物還原，例如重金屬氧化物，置于此焰中灼燒，會失去其所含的氧，被還原成金屬。)。
(3)燈管電流
電流的大小也會影響吸收度。如果燈管的電流太小，則吸收度會下降，但如果太高則可能因自身吸收效應(yīng)(Self Absorption Effect)使其吸收度下降。
(4)狹縫寬度
狹縫太小則使進(jìn)入的光能量太弱，使吸收度下降，太寬則使進(jìn)入的光線太多，易造成干擾，故于分析前可參考操作手冊之建議條件或是自行測試選擇較適當(dāng)?shù)莫M縫寬度。
(5)波長選擇
元素吸收靈敏度與所選擇的波長有很大的關(guān)系，通常每一個元素多有數(shù)個波長可供選擇，可依據(jù)分析的需求選擇適當(dāng)?shù)牟ㄩL。
二、操作干擾說明
原子分光光度計(jì)在使用過程中，會受到一定程度的干擾，可概分六類：（1）光譜干擾(SpectralInterference)、（2）火焰放射干擾(Flame Emission Interference)、（3）化學(xué)干擾(ChemicalInterference)、（4）基質(zhì)干擾(Matrix Interference)、（5）非特定性散射(Non-Specific Scatter)及（6）離子化干擾(Ionization Interference)。
(1)光譜干擾：此干擾主要是樣品中存在其它元素造成的干擾。此干擾近年來因中空陰極射線技術(shù)的提升已很少發(fā)生。
(2)放射干擾：此干擾主要來自于樣品放射出與欲吸收的波長相同。此干擾可藉由提高電流強(qiáng)度或降低狹縫寬度來解決。
(3)化學(xué)干擾：此干擾最常發(fā)生于利用原子吸收來分析鎂、鈣、鍶及鋇等金屬。最常見的干擾物種有硅酸鹽、磷酸鹽及鋁酸鹽等化合物。一般解決的方法有兩種，一為利用螯合劑(EDTA)與金屬錯合，二為添加氯化鑭與造成干擾的陰離子錯合；或者可利用笑氣-乙炔來解決化學(xué)干擾的問題。
(4)基質(zhì)干擾：一般此干擾原因有(a)溶液中含有機(jī)溶劑而造成吸收度的增加，(b)因溶液的黏滯性較高因霧化效率下降而造成吸收度下降，(c)溶液的鹽度較高而造成吸收度下降。
以上四種干擾可藉由標(biāo)準(zhǔn)添加法(Standard Addition)或是萃取法將金屬自溶液中萃取出來或者改用其它的分析技術(shù)。
(5)非特定性干擾：此干擾來自樣品中含有高濃度的鹽類，此情形最常發(fā)生于波長在250 nm以下，此干擾可用萃取技術(shù)及背景校正來克服。
(6)離子化干擾：此干擾最常發(fā)生于低游離能元素，如堿金族及堿土族元素。解決的方法可在樣品中加入比待測元素更容易解離的化合物，如分析鈣時可添加1000 ppm的氯化鉀溶液。
