722分光光度計基線校正的原因、方法和注意事項
對于雙光束分光光度計而言在使用前必須要做基線校正（也稱為基線記憶）。
一、為何要做基線校正
眾所周知，光度計的光學系統基本是由光源（氘燈、鎢燈）、單色器（光柵、狹縫）、檢測器（光敏二極管、光電倍增管）等三部分組成的。在我們使用的波長區域中，上述部件在不同的波長下的響應值（光源的發射強度、單色器的色散強度、檢測器的放大倍數）均不相同。通俗地說、即使沒有樣品，儀器如果不做基線校正，那么在190nm至 1100nm的范圍中，吸光值或透過率不會是一條直線，這是一種客觀的物理現象。
二、被校正的基線種類和用途
1)系統基線
所謂系統基線就是儀器固有的波長范圍的總基線。例如一臺儀器出廠設計的波長全程范圍是190nm至1100nm，那么它的系統基線就是這個范圍。一般來講，作為分析人員對一臺儀器做全程掃描測試是比較少見的。之所以要做系統基線的目的一般是將儀器的光學系統的響應值校正到基本一致。
2)用戶基線
所謂用戶基線就是分析者自己設定的測量波長區域的一段基線。由于這是分析所需要的區域，為了保證測試的準確性，故用戶基線的校正是非常重要和必要的。
三、基線校正的方法
1) 系統基線校正
系統基線的校正較為簡單，一般情況下樣品室內不放樣品，僅做光學系統的校正。如果一定要使用全波段的測量那另當別論。
同時需要注意的是系統基線無需經常校正，一般半個月或一個月校正校正一次即可。對有的儀器來說，系統基線校正過于頻繁反而會造成基線漂移嚴重。
2) 用戶基線校正
正確的校正方法是：兩只比色杯盛有空白溶液分別放置在樣品及參比光路中，校正波長范圍要大于分析波長范圍。例如分析設定范圍為220nm—500nm，那么校正波長就要設定為210nm—510nm，等待校正結束后再將波長設定回到原來的220nm—500nm范圍。
這種校正方法如果校正波長與分析波長完全吻合一致，有可能在校正后的基線兩端出現大的噪聲，如果校正范圍大于實際分析范圍并掐頭去尾后可以提高分析精度。
值得注意的是，有的儀器操作者在做基線校正時，參比一側不放參比溶液，也就是用空氣來做參比對照。這種方法在可見區對有的樣品也許有時影響不大，但在紫外區影響就會很明顯了。嚴格的說，用空氣做參比所測得的結果不是真正意義上的校正光譜。
四、基線校正的注意事項
1) 基線校正時要保證儀器有一定的預熱時間
2) 每更換一種參比溶液后均要重新做基線校正
3) 如果參比溶液的吸光度大于樣品的吸光度值時測試結果會出現負值，此時要考慮使用何種溶液做基線校正了。
4) 做基線校正時要考慮試劑的使用波長范圍問題，因為有的試劑在某個波長以下的吸光度值會無限大，這時去做校正會超出儀器的有效量程范圍，無法得到真正的結果。關于試劑的使用波長范圍，目前一般在試劑瓶的標簽上會有標注。
